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采矿作业矿产矿石元素分析仪(XRF)

采矿作业矿产矿石元素分析仪(XRF)

简要描述:采矿作业矿产矿石元素分析仪(XRF)格林诺尔GN-FSDD900光谱仪主要应用于采矿作业(勘探、开采、品位控制),工业矿物,生产水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化学学术研究,考古等。其优异的线性动态范围,可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。

产品型号: 格林诺尔GN-FSDD900

所属分类:便携式XRF分析仪

更新时间:2022-11-22

厂商性质:生产厂家

产品简介
品牌自营品牌价格区间20万-50万
产地类别国产应用领域环保,地矿

详情介绍

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格林诺尔GN-FSDD900光谱仪主要应用于采矿作业(勘探、开采、品位控制)工业矿物生产水泥和建筑材料的原材料耐火材料陶瓷和玻璃地球化学学术研究考古其优异的线性动态范围,可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。

具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器,对轻、中、重元素和常见氧化物(Na2O、MgO、Al2O₃、SiO₂、P2O5SO₃、K2O、CaO、TiO₂、Cr2O₃、MnO、Fe2O₃、ZnO和SrO等)都可达到最佳分析效果。

Simply the Best

>先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器

>真空光路配备薄膜滤光片技术,提高轻元素检出限

>可同时分析40种元素

>可分析固体,液体,粉末和泥浆

>进口X光管管芯提供可靠样品激发性能

>无损检测,快速分析(1-2分钟出结果)

>无需化学试剂,无耗材,更环保,更高效

GN-FSDD900的分析性能,使其可以轻松完成对以下矿种的测试:

铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)

铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)

铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)

钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)

钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)

钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)

铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)

镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)

铝土矿

其它矿类

采矿作业矿产矿石元素分析仪(XRF)产品特点

1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高灵敏度、高精度分析

2.可同时分析40种元素

3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术

4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率

5.超高记数数字多道电路设计,双真空抽速机构,真空度自动稳定系统

6.标配基本参数法软件,多任务,多窗口操作

7.薄膜滤光片技术,有效提高轻元素检出限

采矿作业矿产矿石元素分析仪(XRF)仪器参数

仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm

超大样品腔:465mm*330mm*110mm

半封闭样品腔(抽真空时):Φ150mm×75mm

仪器重量: 48Kg

元素分析范围:Na11-U92钠到铀

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

探测器:AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器

探测器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

处理器类型:全数字化DP-5分析器

谱总通道数:4096道

X光管:高功率50瓦光管(进口管芯),冷却方式:硅脂冷却

光管窗口材料:铍窗

准直器:多达8种选择,最小0.2mm

滤光片:7种滤光片的自由选择和切换

高压发生装置:原装美国高压,电压输出:0-50kV;输出电流:0-1mA

高压参数:最小5kv可控调节,自带电压过载保护,输出精度:0.01%

样品观察系统:500万像素高清CCD摄像头

电压:220ACV 50/60HZ

环境温度:-10 °C 到35 °C

 

仪器配置

标准配置

可选配置

Ag初始化标样

磨样机

真空泵

压片机

矿石专用样品杯 

烘干箱

USB数据线

XRF专用全自动熔样机

电源线

电子秤

测试薄膜

矿石标准物质

仪器出厂和标定报告

交流净化稳压电源

保修卡

150目筛子

 

全新设计的XTEST分析软件

软件内核包括基本参数法FP),经验系数法(EC),可轻松分析各类样品。

*光谱处理参数包括用于定义背景连续性,堆积峰和峰总和,平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量

*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的*校正,即所有基质效应,增强和吸收。

*谱显示:峰定性,KLM标记,谱重叠比较,可同时显示多个光谱图

*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应,将光峰强度建模为高斯函数。

*可以使用纯基本参数方法,具有分散比的基本参数(对于包含大量低Z材料的样品)或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。

*基本参数分析可以基于单个多元素标准,多个标准或没有标准的样品。




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